| 1. Identificação | |
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
| Site | mtc-m16.sid.inpe.br |
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
| Identificador | 6qtX3pFwXQZ3r59YDa/K369B |
| Repositório | sid.inpe.br/iris@1916/2006/02.01.12.12 (acesso restrito) |
| Última Atualização | 2006:06.20.18.33.39 (UTC) administrator |
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/iris@1916/2006/02.01.12.12.15 |
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.05.01.16.44 (UTC) administrator |
| Chave Secundária | INPE-13799--PRE/8985 |
| ISSN | 0040-6090 |
| Chave de Citação | ZanettiDaSi:2006:5O7Py |
| Título | Structural and optical properties of Bi 1. 5 O7 pyrochlore thin films prepared by chemical method  |
| Ano | 2006 |
| Mês | Feb. |
| Data de Acesso | 18 maio 2024 |
| Tipo Secundário | PRE PI |
| Número de Arquivos | 1 |
| Tamanho | 323 KiB |
| 2. Contextualização | |
| Autor | 1 Zanetti, Sônia Maria 2 Da Silva, S. A. |
| Grupo | 1 LAS-INPE-MCT-BR |
| Afiliação | 1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais, (INPE, LAS) 2 Instituto Tecnológico de Aeronáutica, Departamento de Química (ITA) |
| Revista | Thin Solid Films |
| Volume | 497 |
| Número | 1/2 |
| Páginas | 72-76 |
| Histórico (UTC) | 2006-06-20 18:33:39 :: vinicius -> administrator :: 2018-06-05 01:16:44 :: administrator -> marciana :: 2006 |
| 3. Conteúdo e estrutura | |
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
| Estágio do Conteúdo | concluido |
| Transferível | 1 |
| Tipo do Conteúdo | External Contribution |
| Palavras-Chave | pyrochlore optical properties dielectrics structural properties DIELECTRIC-PROPERTIES BISMUTH PHASE |
| Resumo | The Bi1.5ZnNb1.5O7 pyrochlore was prepared by the polymeric precursor method. The films were deposited by dip coating on fluorine-doped tin oxide (FTO)-coated glass, fused quartz, and Pt/Ti/SiO2/Si(100) substrates. The films deposited on FTO-coated glass were annealed at temperatures ranging from 400 to 550 degrees C and from 500 to 800 degrees C, for fused quartz and Pt/Ti/SiO2/Si(100) substrates. Atomic force microscopy images revealed the surface morphology of the films as a function of the annealing temperature. X-ray difftaction detected the cubic pyrochlore in films treated above 450 degrees C, and full crystallization occurred at 700 degrees C. The films showed a high [I I I] orientation independently of the substrate, whereas those deposited on fused quartz showed the highest orientation. The optical band gap, calculated from the transmission measurements, ranged from 3.9 to 3.2 eV as a function of the temperature and the crystallite size. |
| Área | FISMAT |
| Arranjo | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Structural and optical... |
| Conteúdo da Pasta doc | acessar |
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
| Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
| 4. Condições de acesso e uso | |
| Idioma | en |
| Arquivo Alvo | Structural and optical properties of Bi.pdf |
| Grupo de Usuários | administrator vinicius |
| Visibilidade | shown |
| Detentor da Cópia | SID/SCD |
| Política de Arquivamento | denypublisher denyfinaldraft24 |
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 |
| Permissão de Atualização | transferida para vinicius |
| 5. Fontes relacionadas | |
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 |
| Divulgação | WEBSCI; PORTALCAPES. |
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40 |
| 6. Notas | |
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype |
| 7. Controle da descrição | |
| e-Mail (login) | marciana |
| atualizar | |